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“Filmetrics 薄膜测厚仪”参数说明
| 品牌： | 美国filmetrics | 加工定制： | 否 |
| 类别： | 光学测绘仪器 | 测量范围： | 15纳米-100微米 |
| 测量精度： | 0.4%或2纳米之间较大者 | 外形尺寸： | 0000000（mm） |
| 用途： | 薄膜厚度测量 | 标准装箱数： | 1 |
| 长度： | 0000 | 工作温度： | 常温 |
| 十字线： | 3 | 视野： | 15 纳米-100 微米 |
| 物镜直径： | 1.5 毫米，最小可选至20 微米 | 重量： | 35/公斤 |
| 型号： | Jc-f20 | 商标： | 江承仪器 |
| 包装： | 木箱 |
“Filmetrics 薄膜测厚仪”详细介绍
加工定制 否 品牌 美国Filmetrics 型号 PJ-F20
测量范围 15纳米-100微米 准确度 0.4%或2纳米之间较大者 外形尺寸 0000000（mm）
重量 10（kg） 分辨率 精度：0.1纳米稳定性：0.07纳米
Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的单层薄膜或多层薄膜堆厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量！
1、测量范围15纳米-100微米
2、测量n 和k 值得厚度要求100纳米以上
3、准确度0.4%或2纳米之间较大者
4、精度0.1纳米稳定性0.07纳米
5、斑点尺寸标准1.5毫米，最小可选至20微米
6、样品尺寸直径从1毫米到300毫米
7、光源钨卤素灯波长范围380-1050纳米
基本要求
1、电源100-240VAC 50-60Hz 0.3-0.1A
电脑要求
2、系统内存至少50MB
3、硬盘空间至少60MB
4、操作系统Windows XP-SP2-Windows 8（60-bit）
5、界面USB2.0
6、互联网建议联网以便网上支持
7、认证CE EMC 和欧洲安全指令
测量范围 15纳米-100微米 准确度 0.4%或2纳米之间较大者 外形尺寸 0000000（mm）
重量 10（kg） 分辨率 精度：0.1纳米稳定性：0.07纳米
Filmetrics系列膜厚测试仪拥有单点测量、显微镜斑点测量、自动测绘系统、在线监测等功能型号的膜厚测试仪产品。Filmetrics 膜厚测试仪产品轻点鼠标就能测量1纳米到13毫米的单层薄膜或多层薄膜堆厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量！
1、测量范围15纳米-100微米
2、测量n 和k 值得厚度要求100纳米以上
3、准确度0.4%或2纳米之间较大者
4、精度0.1纳米稳定性0.07纳米
5、斑点尺寸标准1.5毫米，最小可选至20微米
6、样品尺寸直径从1毫米到300毫米
7、光源钨卤素灯波长范围380-1050纳米
基本要求
1、电源100-240VAC 50-60Hz 0.3-0.1A
电脑要求
2、系统内存至少50MB
3、硬盘空间至少60MB
4、操作系统Windows XP-SP2-Windows 8（60-bit）
5、界面USB2.0
6、互联网建议联网以便网上支持
7、认证CE EMC 和欧洲安全指令
